Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику коррекции систематической ошибки, которая возникает при испытании фотоэлектрических приборов и вызвана, с одной стороны, несоответствием между спектром излучения, используемого при испытаниях, и стандартным спектром излучения, и, с другой стороны, несоответствием между спектральной чувствительностью (СЧ) эталонного элемента и испытуемого образца |
---|